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全自动多站比表面积和孔隙度分析仪PCB抄板案例

发布:/ | 作者: | 发表时间:2009-12-31

  云顶娱乐手机安卓版公司在原样机的基础上进行二次开发而研制,在保持原样机所有功能的前提下满足了客户的个性化需求,其产品投放市场后已取得了良好的经济效益,深受用户赞誉。
  仪器介绍
  TriStar II3020新一代全自动比表面积和孔隙度分析仪,可同时进行三个样品的分析从而提高分析效率,提供全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH中孔、大孔体积、面积分布、总孔体积、de Boer t-plot数据处理微孔体积和表面积,厚度公式、αs-plot和f-ratio 法、MP法。
  歧管和三个样品分析站分别配有独立的传感器,可以同时精确的测量三个样品,PO管同样拥有独立的压力传感器。
  软件配备自检系统,方便用户自行检测仪器
  选配的分子涡轮泵以及10mmHg可以将仪器升级到微孔单元。
  技术参数1.比表面测量范围为氮气吸附0.01m2/g 至无上限,氪气吸附0.0001m2/g 至无上限
  2.孔径分析范围:3.5 埃~5000 埃,
  3.测量5 点BET 比表面仅需20 分钟。
  4.重复性优于1%。
  5.真正的三站同时测量。每个分析站均有独立的高精度压力传感器。
  6.新的软件字幕,以太网口连接主机和电脑的通讯数据线,内置电子检测点和强大的仪器自诊断功能.
  7.可升级至微孔单元,选配的分子涡轮泵和10mmHg高精度压力传感器
  8.多种样品制备系统可选。
  主要特点分析方法包括
  ?全吸附、脱附曲线(吸附脱附曲线都做到1000 个测量点)
  单点或多点BET 比表面积
  ?Langmuir 比表面
  ?平均孔尺寸和单点总孔体积
  ?BJH 吸附/脱附曲线,中孔、大孔信息
  (体积、面积分布)
  ?Harkins Jura 厚度层公式
  ?Halsey 厚度层公式
  ?中孔和大孔体积、面积对孔径分布
  ?NLDFT 非定域密度函数理论
  ?总孔体积?Validation reports
  ? 专为企业服务的SPC(Statistical Process Control 统计过程控制)报告。
  ? Dollimore-Heal adsorption and desorption
  ? Kruk-Jaroniec-Sayari correction
  ?de Boer t-plot(数据处理微孔体积和表面积,厚度公式)
  ?αs-plot ?f-ratio
  ?MP 法,Harkins Jura 厚度层公式,Halsey 厚度层公式,
  ?Kruk-Jaroniec-Sayari correction
  ?STSA 碳黑外比表面
  ?DFT 和比表面能分布( 密度函数理论)
  ?summary report 总结报告
  以上信息由深圳云顶娱乐手机安卓版公司(http://www.pcbvs.com/index.html)提供。目前,云顶娱乐手机安卓版公司专业研发团队已经成功实现上述产品的仿制克隆与二次开发项目,长期提供相关项目合作与全套技术资料的转让,诚挚欢迎您来电来访咨询详情。

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